目前显示产品主要有TFT-LCD，OLED，μLED，在生产过程中阵列，Cell，模块测试是三道最核心的测试工序。
因为显示逐步增高，测试点逐步细小，测试效率要求高，在测试中存在很多难点，如容值检查，漏电精准，IVL同步，巨量像素并行传输等。
因此，对检查设备要求极高，才能满足显示技术的需求。
盛华探针卡 (www.sinowintech.com), 在超过18年的图像，光电开发技术,开发出高性能的
盛华MeMs@SP，MeMs@μC 显示测试探针卡，测试探针卡,推向市场, 应用于：TFT-LCD/OLED/μLED Test，满足客户的测试需求.