目前显示产品主要有TFT-LCD,OLED,μLED,在生产过程中阵列,Cell,模块测试是三道最核心的测试工序。
因为显示逐步增高,测试点逐步细小,测试效率要求高,在测试中存在很多难点,如容值检查,漏电精准,IVL同步,巨量像素并行传输等。
因此,对检查设备要求极高,才能满足显示技术的需求。
盛华探针卡 (www.sinowintech.com), 在超过18年的图像,光电开发技术,开发出高性能的
盛华MeMs@SP,MeMs@μC 显示测试探针卡,测试探针卡,推向市场, 应用于:TFT-LCD/OLED/μLED Test,满足客户的测试需求.