6.4.2 Embedded Deterministic TestTestKompress是第一个商业可用的片上测试压缩产品，来自Mentor Graphics。它用到的是embedded deterministic test (EDT)技术，技术架构图如下：EDT架构包括一个on-chip decompressor（插在外部scan input ports和内部scan chains中间），还有一个on-chip selective compactor（插在内部scan chains和外部scan output ports中间）。从图上也可以直观地看到，decompressor决定的是TestKompress的stimuli compression效率，它有以下几种特点：高compression ratio非常高的操作速度very low silicon area高度模块化decompressor的示意图如下：
