开短路测试（Open/Short Test）原理

开短路测试（Open/Short Test）通常也称为连续性或连接性测试。在集成电路的制造过程中，会有相应比例的制造缺陷导致DUT自身电路的开短路，这些有缺陷的产品需要被筛选出来。由于在实际的生产测试中，产品的成本与测试时间成正比，因此需要一种可以快速分辨失效产品的测试方法。一开始就执行开短路测试可以快速地筛选出具有此种缺陷的产品，同时也可以用来验证ATE与DUT间的电气连接是否正常。芯片测试项全部完成后，也要在最后加一道OS测试，目的是检查是否因测试导致芯片损坏。

开短路测试通常是借助于DUT引脚的保护电路来完成的。通常在集成电路设计中，为了保护输入、输出引脚，使其避免受到静电放电（ESD）或其他过压情况导致的损坏，会在引脚与地之间加入一个保护二极管，有些电路也会同时在引脚与电源间加入保护二极管。这些保护二极管在电路正常工作时是反向截止的，不会对电路的正常工作有任何影响。测量是DUT上的对地二极管

开短路测试就是借助于这些保护二极管来完成的。测量时，首先把所有引脚接地，包括电源引脚。接下来把被测引脚接到ATE的PMU，由PMU施加一个很小的电流，这个电流会使得其中一个保护二极管正向导通，通过测量这个导通压降，就可以判断被测引脚的开短路状态。根据欧姆定理：U=I×R,当被测引脚短路时，电阻R趋近于0，测得电压也趋近于0；而当被测引脚开路时，电阻R相当于无穷大，测得的电压会很大，所以在做测试时，需要对最大电压做钳制限制，以避免输出电压过大，损坏测试机和被测器件。